SDH测试

去映射测试 配置见图3，SDH测试仪（发送侧）将支路测试仪送来的G.703支路信号（或SDH测试仪产生）映射进合适的VC，然后将支路测试信号的比特率有意调偏，以考察待测实体去映射过程的解同步锁相环的工作效果。待测实体对支路信号经去映射处理，并送给支路测试仪进行抖动幅度测量和BER测量，以便检验支路信号的完整性。

图3 去映射测试配置

定时偏移测试 配置见图4，SDH测试仪发送侧与接收侧是异步工作的，发送侧产生一个装PRBS的测试VC，然后将VC嵌入到SDH线路信号中，该线路信号与待测实体的定时基准是不同步的，有定时偏移，因而，测试 VC 的指针值必须进行调整，以便使测试VC与待测实体同步。在待测实体的输出，测试VC相对SDH信号帧将呈现移动。由于测试仪的接收侧同步于待测实体，经过适当的指针处理，可恢复测试VC。再利用BER测试，可检验VC的完整性。因而，可利用SDH测试仪接收侧计算出单位时间内的指针调整计数，结果可用来度量待测实体定时基准与测试源定时基准的频率偏移。

图4 定时偏移测试配置

支路输出抖动测试 配置见图5，将支路测试仪产生的测试支路信号映射进SDH测试仪的合适VC，然后再将该VC嵌入SDH信号帧。其中，支路信号由速率为所要比特率的PRBS构成（也可由SDH测试仪产生）。SDH测试仪将指针调整加到测试VC上，可使VC以可控方式相对SDH信号帧移动。这些可控指针调整的结果将在待测实体去映射的支路信号上产生抖动。用有抖动检测能力的支路测试仪可对支路输出抖动进行测量。

图5 支路输出抖动测试配置